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          1. 產品詳情
            • 產品名稱:日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀

            • 產品型號:FT,MAXXI和X-Strata系列
            • 產品廠商:日立(Hitachi)
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            簡單介紹:
            上海鑄金分析儀器有限公司供應多種型號的日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀?;赬熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液體樣品。日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀方便快速進行質量控制和驗證測試,在幾秒內即可獲得準確的數據。
            詳情介紹:

            日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀|FT,MAXXIX-Strata系列

            日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀簡介:

            微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質量控制和驗證測試,在幾秒內即可獲得準確的數據。

            基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法,日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀|FT,MAXXI和X-Strata系列提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al92U的固體或液體樣品。

            日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀應用:

            ■微焦斑 XRF 光譜儀應用于 PCB、半導體和電子行業

            PCB / PWB 表面處理

            控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據IPC 4556IPC 4552A測量非電鍍鎳(EN,NiP)電鍍厚度和成分結構。日立分析儀器產品幫助您在嚴控的范圍內持續運營,確保高質量并避免昂貴的返工。

            ▲電力和電子組件的電鍍

            零件必須在規格范圍內被電鍍,以達到預期的電力、機械及環境性能。 開槽的X-StrataMAXXI系列產品 ,可以測量小的試片或連續帶狀樣品,從而達到 引線框架(引線框架)、連接器插針、線材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。

            IC 載板

            半導體器件越來越小巧而復雜,需要分析設備測量其在小區域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設計為可為客戶所需應用提供高準確性分析,及重復性好的數據。

            ▲服務電子制造過程 (EMS、ECS

            結合 采購和本地制造的組件及涉及產品的多個測試點,實現從進廠檢查到生產線流程控制,再到*終質量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產品幫助您在全生產鏈分析組件、焊料和*終產品,確保每個階段的質量。

            ▲光伏產品

            對可再生能源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性,從而確保*高效率。

            ▲受限材料和高可靠性篩查

            與復雜的全球供應鏈合作,驗證和檢驗從供應商處收到的材料至關重要。使用日立分析儀器的XRF技術,根據IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHSELV等法規要求,確保高可靠性涂鍍層被應用于航空和**領域。


             

            X-Strata920
            正比計數器

            X-Strata920
            高分辨率 SDD

            FT110A
            正比計數器

            MAXXI 6
            高分辨率 SDD

            FT150高分辨率 SDD毛細管聚焦光學系統

            ENIG

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            ENEPIG

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            非電鍍鎳厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552)

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            非電鍍鎳厚度

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            浸鍍銀

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            浸鍍錫

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            HASL

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            無鉛焊料(如 SAC)

            ★☆☆

            ★★☆

            ★☆☆

            ★★★

            ★★★

            CIGS

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            CdTe

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            納米級薄膜分析

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            多層分析

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            IEC 62321 RoHS 篩選

            ★★★

            檢測特征 < 50 μm 

            ★★★

            模式識別軟件

            ★★★

            ★★★

             

            ■微焦斑XRF光譜儀應用于金屬表面處理

            ▲耐腐蝕性

            檢驗所用涂層的厚度和化學性質,以確保產品在惡劣環境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。

            ▲耐磨性

            通過確保磨蝕環境中關鍵部件的涂層厚度和均勻度,預防產品故障。復雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。

            ▲裝飾性表面

            當目標是實現無瑕表面時,整個生產過程中的質量控制至關重要。通過日立分析儀器的多種測試設備,您可以可靠地檢測基材,中間層和頂層厚度。

            ▲耐高溫

            在極端條件下進行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內。確保符合涂鍍層規格、避免產品召回和潛在的災難性故障。

             

             

            X-Strata920正比計數器

            X-Strata920高分辨率SDD

            FT110A正比計數器

            MAXXI 6高分辨率SDD

            FT150 高分辨率SDD

            Zn / Fe, Fe 合金

            Cr / Fe, Fe 合金
            Ni / Fe, Fe
            合金

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            ZnNi / Fe, Fe 合金
            ZnSn / Fe, Fe
            合金

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            NiP / Fe
            NiP / Cu
            NiP / Al

            ★★☆
            (
            僅厚度)

            ★★☆
            (
            厚度和成分)

            ★★☆
            (
            僅厚度)

            ★★★
            (
            厚度和成分)

            ★★★
            (
            厚度和成分)

            Ag / Cu
            Sn / Cu 

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            Cr / Ni / Cu / ABS

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            Au / Pd / Ni /CuZn

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            WC / Fe, Fe 合金
            TiN / Fe, Fe
            合金

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            納米級薄膜分析

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            多層分析

            ★★☆

            ★★★

            ★★☆

            ★★★

            ★★★

            IEC 62321 RoHS 篩選

            ★★★

            DIM可變焦測試系統

             

            ★★★

             

            模式識別軟件

            ★★★

             

            日立微焦斑XRF光譜儀_微束X射線熒光涂層厚度和材料分析儀產品型號:

            1、X-Strata920

            正比計數器或高分辨率 SDD

            →元素范圍:鈦 - 鈾,或鋁 - 鈾(SDD

            →樣品艙設計:開槽式

            XY 軸樣品臺選擇: 固定臺、加深臺、自動臺

            →*大樣品尺寸:270 x 500 x 150毫米

            →*大數量準直器:6

            →濾光片:1

            →*小的準直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

            SmartLink 軟件

            2、FT110A

            ¨正比計數器系統

            ¨元素范圍:鈦 -

            ¨樣品艙設計:開閉式或開槽式

            ¨XY 軸樣品臺選擇: 開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式程控臺

            ¨*大樣品尺寸:500 x 400 x 150 毫米

            ¨*大數量準直器:4

            ¨濾光片:1

            ¨*小的準直器:0.05 毫米

            ¨X-ray Station 軟件

            3、MAXXI 6

            ?高分辨率 SDD

            ?元素范圍: 鋁 -

            ?樣品艙設計:開槽式

            ?XY 軸樣品臺選擇:固定臺、自動臺

            ?*大樣品尺寸:500 x 450 x 170毫米

            ?*大數量的準直器:8

            ?濾光片:5

            ?*小的準直器: 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)

            ?SmartLink 軟件

            4、FT150

            ?高分辨率 SDD

            ?元素范圍: 鋁 -

            ?樣品艙設計:開閉式

            ?XY 軸樣品臺選擇:自動臺、晶片樣品臺

            ?*大樣品尺寸:600 x 600 x 20 毫米

            ?濾光片:1 3

            ?毛細聚焦管 < 20 μm

            ?XRF控制軟件

             


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            2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!

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